IEC PAS 62161:2000-08

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21.01.2000 Historisch
47/1461/PAS:2000-01

Ersetzt bzw. ergänzt:

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27.01.2003 Historisch
IEC 60749-5:2003-01
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung

Dieses Dokument entspricht:

International

IEC PAS 62161:2000-08
Dokumentart
IEC Öffentliche Spezifikation
Status
Historisch
Erscheinungsdatum
01.08.2000
Sprache
Englisch
Zuständiges Gremium
DKE/K 631
Kontakt
Referat
Elena Rongen
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

v2v4r.854xv4QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-429

Themen

Elektronik-Bauelemente
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