IEC 60749-33:2004-03
Halbleiterbauelemente -
Mechanische und klimatische Prüfverfahren Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung