CISPR 16-2-3:2003/AMD2:2005-07
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Teil 2-3: Verfahren zur Messung der hochfrequenten Störaussendung (Funkstörungen) und Störfestigkeit - Messung der Störfeldstärke (Änderung 2) Teil 2-3: Verfahren zur Messung der hochfrequenten Störaussendung (Funkstörungen) und Störfestigkeit - Messung der Störfeldstärke (Änderung 2)