E DIN EN 55016-2-3 (VDE 0877-16-2-3):2009-08

Teil 2-3: Verfahren zur Messung der hochfrequenten Störaussendung (Funkstörungen) und Störfestigkeit - Messung der gestrahlten Störaussendung (IEC/CIS/A/801/CDV:2008)

Dieser Norm-Entwurf enthält die Deutsche Fassung des Europäischen Norm-Entwurfs FprEN 55016-2-3:2008 und ist identisch mit dem Entwurf der Neuausgabe der Internationalen Norm IEC/CISPR 16-2-3. Er legt Anforderungen an das Messverfahren für hochfrequente gestrahlte Störaussendungen (Störfeldstärken) im Frequenzbereich 1 GHz bis 18 GHz fest. Den EMV-Produktgremien und Anwendern von Messungen der elektromagnetischen Störaussendungen wird empfohlen, die entsprechenden Festlegungen der Normenreihe IEC/CISPR 16 bzw. EN 55016 zu Messgeräten, -verfahren sowie zur Messunsicherheit bei ihren Festlegungen Messung von hochfrequenten Störaussendungen (Funkstörungen) zu beachten.
Gegenüber der aktuellen Ausgabe der Norm ist u. a. vorgesehen, die elektrische Feldstärke als Messgröße im Frequenzbereich 30 GHz bis 1 000 GHz einzuführen. Des Weiteren wird 10 m als Referenz-Messabstand festgelegt, während die Messentfernungen 3 m oder 30 m als alternative Messabstände angesehen werden. Hierbei wird der Abstand zwischen der Begrenzung des Prüflings und dem Antennen-Bezugspunkt als Grundlage genommen. Außerdem ist beabsichtigt, die normativen Verweisungen zu aktualisieren und Hinweise auf Quellen zur Beschreibung von Aspekten der Messunsicherheit aufzunehmen. Schließlich wird der Text der Norm teilweise umstrukturiert.
Zuständig ist das UK 767.4 „Geräte und Verfahren zum Messen von elektromagnetischen Aussendungen“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Klaus-Peter Bretz

Gegenüber DIN EN 55016-2-3 (VDE 0877-2-3):2007-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Ergänzung im Anwendungsbereich (Abschnitt 1), dass die Aspekte der Messunsicherheit in IEC/CISPR 16-4-1 und IEC/CISPR 16-4-2 beschrieben sind;
b) Änderungen und Aktualisierungen der normativen Verweisungen im Abschnitt 2;
c) Ergänzungen und Änderungen von Begriffen im Abschnitt 3 sowie Streichung von nicht benötigten Begriffen;
d) Streichung von 5.2, 5.3 und 6.4.3;
e) Ergänzung von Tabelle 2 in 7.1;
f) Umstrukturierung der Norm: der bisherige Abschnitt 7.6 wird zu 7.2;
g) Korrektur der Verweisung unter 7.2.3 a) (früher 7.6.3 a)) in eine Verweisung auf die IEC/CISPR 16-1-4: 2008 (Ed. 2.1) (statt auf die IEC/CISPR 16-1-2:2003);
h) Ergänzung der neuen Abschnitte 7.2.4, 7.3.9, 7.4.4, 7.5.5, 7.6.7, 7.7.6 und 7.8.5 zur Messunsicherheit bei den einzelnen Verfahren;
i) Einführung der elektrischen Feldstärke als Messgröße in 7.3;
j) Streichung der Anmerkung bei 7.3.6.1 (früher 7.2.5.1);
k) Ergänzung der Festlegungen in 7.5.3 (früher 7.2.9.3.3);
l) Ergänzung von Festlegungen in 7.9 (früher 7.2.8);
m) Ergänzung von Festlegungen in 7.10 (früher 7.2.10);
n) redaktionelle Überarbeitung und teilweise Umstrukturierung der Norm