Dieser Teil der IEC 60749 ist vorgesehen für die Messung bzw. Prüfung des Gehalts von Wasserdampf und anderen Gasen in der Atmosphäre eines Bauelements mit hermetisch geschlossenem Metall- oder Keramikgehäuse. Er gilt für Halbleiterbauelemente, die in dieser Weise verschlossen sind, wird jedoch im Allgemeinen nur für Anwendungen mit hoher Zuverlässigkeit benutzt, wie sie z. B. im militärischen Bereich und in der Raumfahrt gelten.
Gegenüber DIN EN 60749-7:2003-04 wurden folgende Änderungen vorgenommen:
a) Die Festlegungen wurde mit den jeweiligen Verfahren 1018 der neuesten Dokumente MIL-STD-750 und MIL-STD-883 in Übereinstimmung gebracht.
b) Die bisherigen alternativen Verfahren, die als Verfahren 2 und Verfahren 3 gekennzeichnet waren, wurden gestrichen.
c) Die Norm wurde hierzu technisch und redaktionell komplett überarbeitet.
Zuständig ist das K 631 „Halbleiterbauelemente“ der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.
Th. B. Lieber