90/310/FDIS:2012-10
Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik – Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten
Teil 17: Messungen der elektronischen Charakteristik – Lokale kritische Stromdichte und deren Verteilung in großflächigen supraleitenden Schichten
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