EN 61788-16:2013-04
Teil 16: Messungen der elektronischen Charakteristik – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
Teil 16: Messungen der elektronischen Charakteristik – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
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