DIN EN 61788-16 (VDE 0390-16):2013-11

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Supraleitfähigkeit -

Teil 16: Messungen der elektronischen Charakteristik - Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 61788-16:2013); Deutsche Fassung EN 61788-16:2013

Kurzdarstellung

Der Gegenstand dieses Dokuments umfasst die Beschreibung des Standard-Messverfahrens des leistungsabhängigen Oberflächenwiderstandes von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen nach der Saphirresonator-Methode. Messgröße ist die Leistungsabhängigkeit dieses Widerstandes bei der Resonanzfrequenz.
Die folgenden geeigneten Messbereiche zur Bestimmung der Oberflächenwiderstände für diese Methode sind:
Frequenzen bis max. 10 GHz
Eingangs-Mikrowellenleistung kleiner als 37 dBm (5 W)
Die Angaben des Oberflächenwiderstandes bei der gemessenen Frequenz und die auf 10 GHz skalierten Werte sind zum Vergleich anzugeben.
Zuständig ist das DKE/K 184 "Supraleiter" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik im DIN und VDE.

Beziehungen

Enthält:

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05.04.2013 Aktuell
EN 61788-16:2013-04
Supraleitfähigkeit - Teil 16: Messungen der elektronischen Charakteristik – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen
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16.01.2013 Aktuell
IEC 61788-16:2013-01
Supraleitfähigkeit - Teil 16: Messungen der elektronischen Charakteristik – Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand von Supraleitern bei Mikrowellenfrequenzen

Entwurf war:

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01.07.2011 Historisch
E DIN EN 61788-16 (VDE 0390-16):2011-07
Supraleitfähigkeit - Teil 16: Messung der elektronischen Eigenschaften - Leistungsabhängiger Oberflächenwiderstand bei Mikrowellenfrequenzen (IEC 90/259/CD:2011)

Dieses Dokument entspricht:

Dokumentart
Norm
Status
Aktuell
Erscheinungsdatum
01.11.2013
Sprache
Deutsch
Zuständiges Gremium
Kontakt
Referat
Dr. Tim Brückmann
Merianstr. 28
63069 Offenbach

_z3.s8@vt13r44QAuv.t53 Tel. +49 69 6308-364

Referatsassistenz
Marina El Sleiman
Merianstr. 28
63069 Offenbach am Main

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