Interview mit Sebastian Fritsch
DKE: Herr Fritsch, erläutern Sie doch bitte einmal die neuen Projekte der Normenreihe IEC 62443. Woher kommt die Motivation?
Fritsch: Die Projekte haben bereits eine längere Historie und die Motivation zur Bearbeitung ist jeweils etwas unterschiedlich.
Für das Projekt zur Evaluationsmethodik zur IEC 62443-4-2 beispielsweise existiert zwar ein breites Zertifizierungsangebot auf dem Markt, allerdings mit wenig Vergleichbarkeit. Es ist unter anderem nicht offengelegt, nach welchen Maßstäben die Bewertung der Security-Industriekomponenten erfolgt. Unser Projektziel ist es daher, hierfür einen transparenten Rahmen festzulegen, nach denen Prüf- und Zertifizierungsunternehmen ihre Bewertungsprogramme für Komponenten definieren können.
Unsere Motivation für das Projekt zur Entwicklung von Regeln zu Profilen ist mit der Zeit gewachsen. Angefangen hat das ebenfalls mit der internationalen Normenreihe IEC 62443, weil gewisse Teile bereits explizit erwähnen, dass eine Profilbildung (en: Tailoring) stattgefunden hat. Es gab also eine Tendenz in der Anwendung, dass eine Art „wildes Herauspicken“ von Anforderungen erfolgt. Von deutscher Seite aus haben wir in der Normung dann angefangen, Vorschläge zu formulieren, wie konkrete Profile aussehen sollten – und zwar für einzelne, spezielle Teile der Norm, um zu verdeutlichen, dass es hier nur eine gewisse und sinnvolle Auswahl an Anforderungen gibt.
Aus der ursprünglichen Diskussion hat sich das Ergebnis abgeleitet, dass wir dieses Thema breiter angehen müssen und zudem Regeln benötigen, wie Profile entwickelt werden.